Converteren vierkante mijl (VS-opname) naar Elektronen doorsnede
Vul hieronder waarden in om te converteren vierkante mijl (VS-opname) [mi^2 (VS)] naar Elektronen doorsnede [ECS], of Converteren Elektronen doorsnede naar vierkante mijl (VS-opname).
Hoe te converteren Vierkante Mijl (Vs-Opname) naar Elektronen Doorsnede
1 mi^2 (VS) = 2.5899984703e+58 ECS
Voorbeeld: converteren 15 mi^2 (VS) naar ECS:
15 mi^2 (VS) = 15 × 2.5899984703e+58 ECS = 3.88499770545e+59 ECS
Vierkante Mijl (Vs-Opname) naar Elektronen Doorsnede Conversietabel
| vierkante mijl (VS-opname) | Elektronen doorsnede |
|---|
Vierkante Mijl (Vs-Opname)
Een vierkante mijl (VS-opname) is een eenheid van oppervlakte gelijk aan de oppervlakte van een vierkant met zijden van één mijl, specifiek gebruikt in het Amerikaanse landmeetkundige systeem.
Geschiedenis/Oorsprong
De vierkante mijl wordt historisch gebruikt in landmeting en cartografie in de Verenigde Staten, afkomstig uit het Britse imperiale systeem. Het wordt veel gebruikt bij landmeting en landverdeling, vooral in landelijke en agrarische contexten.
Huidig gebruik
Tegenwoordig wordt de vierkante mijl (VS-opname) vooral gebruikt in landmeting, onroerend goed en geografische gegevens binnen de Verenigde Staten, met name voor het meten van grote landgebieden zoals counties, staten en nationale parken.
Elektronen Doorsnede
Elektronen doorsnede (ECS) is een maat voor de waarschijnlijkheid dat een elektron interactie heeft met een doelwitdeeltje of materiaal, meestal uitgedrukt in eenheden van oppervlakte zoals vierkante meter of barns.
Geschiedenis/Oorsprong
Het concept van de doorsnede is ontstaan in kern- en deeltjesfysica om interactieprobabiliteiten te kwantificeren. De elektronen doorsnede is ontwikkeld door middel van experimentele metingen en theoretische modellen sinds het begin van de 20e eeuw, en speelt een cruciale rol in het begrijpen van elektron-materiaal interacties.
Huidig gebruik
ECS wordt gebruikt in velden zoals plasmafysica, elektronenmicroscopie en stralingsfysica om elektronenverstrooiing, botsingsprocessen en materiaaleigenschappen te analyseren, wat helpt bij het ontwerpen van experimenten en het interpreteren van gegevens over elektroninteracties.